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適用客戶：
高校、科研單位及企業：獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息。用于確定晶體的原子和分子結構。其中晶體結構導致入射X射線束衍射到許多特定方向。 通過測量這些衍射光束的角度和強度，晶體學家可以產生晶體內電子密度的三維圖像。 根據該電子密度，可以確定晶體中原子的平均位置，以及它們的化學鍵和各種其他信息。
適用標準：
樣品尺寸：
金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于10X10毫米；粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米。
產品簡介：
X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，中文翻譯是是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息。
X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的粒子（原子、離子或分子）所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
滿足衍射條件，可應用布拉格公式：2dsinθ=nλ。入射光束使每個散射體重新輻射其強度的一小部分作為球面波。 如果散射體與間隔d對稱地排列，則這些球面波將僅在它們的路徑長度差2dsinθ等于波長λ的整數倍的方向上同步。 在這種情況下，入射光束的一部分偏轉角度2θ，會在衍射圖案中產生反射點。
應用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。目前 X射線衍射(包括散射)已經成為研究晶體物質和某些非晶態物質微觀結構的有效方法。物相分析是X射線衍射中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數據相比較，確定材料中存在的物相；后者則根據衍射花樣的強度，確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關系和檢查材料的成分配比及隨后的處理規程是否合理等方面都得到廣泛應用。
主要參數：
應用領域：
物相鑒定功能，分析各結晶相的比例；結晶度分析，確定材料的結晶程度；快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標；快捷測定微觀應力；納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據，采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
